科学技術からみたリスク

フォーマット:
図書
責任表示:
益永茂樹責任編集
言語:
日本語
出版情報:
東京 : 岩波書店, 2007.9
形態:
x, 168p : 挿図 ; 22cm
著者名:
益永, 茂樹 <DA14336702>  
シリーズ名:
リスク学入門 / 橘木俊詔 [ほか] 編集 ; 5 <BA82435381>
書誌ID:
BA82938688
ISBN:
9784000281355 [4000281356]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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